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遮光率是指被顆粒散射和吸收掉的光占光總量的百分比,是激光粒度測試中用來表示懸浮液光學濃度的一個量。遮光率的計算方法是原始光強I0與加入樣品后探測器中心點的光強Ii的差除以I0再乘以100%得到,即遮光率=(I0-Ii)/I0×100%。一般遮光率的范圍在10±5之間。在實際粒度測試時,遮光率是復散射和代表性之間的平衡點,即把復散射減到小,又能保證樣品的代表性。為了這個目的,遮光率的范圍與樣品的粒度有關:粒度越大,遮光率越大;粒度越小,遮光率越小。常見遮光率與粒度...
查看全文X射線衍射XRD工作原理:分析原理:X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射,主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產生大強度的光束稱為X射線的衍射線。X射線衍射儀技術(XRD)注意事項:(1)固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。(2)對于片狀、圓拄狀...
查看全文X射線衍射儀技術(XRD)可為客戶解決的問題:(1)當材料由多種結晶成分組成,需區分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結晶相的比例。(2)很多材料的性能由結晶程度決定,可使用XRD結晶度分析,確定材料的結晶程度。(3)新材料開發需要充分了解材料的晶格參數,使用XRD可快捷測試出點陣參數,為新材料開發應用提供性能驗證指標。(4)產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象,可能涉及微觀應力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應力。(5)納米材料由于顆粒細小,極易形成團...
查看全文下面從粘壁現象的起因、結果、解決辦法依次談起:噴霧干燥過程中,干燥的物料粘附在干燥塔內壁上的現象,一般稱為粘壁現象。粘壁現象是噴霧干燥實驗中必須考慮的一個重要問題。粘壁現象對實驗的影響:★粘壁物料長時間停留干燥塔在內壁,可能被燒焦或變質,影響樣品質量;★粘壁物料結塊落入收料瓶的樣品中,使樣品不能達到所規定的濕含量;★結塊物料落入樣品中,使樣品不得不增加粉碎過程,以達到一定的細度;★噴霧干燥過程中清除粘壁物料,不得不中途停止實驗,影響了實驗有效操作時間;粘壁現象?體分為三種情況...
查看全文透射電子顯微技術TEM應用原理:分析原理:高能電子束穿透試樣時發生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成襯度,顯示出圖象譜圖的表示方法:質厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息:晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結構和晶格與缺陷等掃描電子顯微技術SEM應用原理:分析原理:用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法:背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等提供的信息:...
查看全文制備球型二氧化硅膠的第二代技術主要依賴噴霧干燥法和溶膠--凝膠法。納微創造性地把有機高分子微球的制備技術嫁接到無機二氧化硅的微球制造上,一舉突破了多孔二氧化硅微球材料粒徑大小和粒徑分布控制技術難題,既解決了國外壟斷技術壁壘,又繞開了復雜的篩分工藝,而且具有生產效率高,質量穩定性好,固廢少,綠色環保等特點。硅膠色譜填料粒徑分布系數CV值:粒徑分布系數CV值越小,微球均勻性和一致性越好,性能也越好。納米微球在材料界發揮著各種各樣的關鍵作用,在平板顯示領域,粒徑高度均一的微球可作為...
查看全文真空干燥箱的正確使用方法:1、需干燥處理的物品放入真空干燥箱內,將箱門關上,并關閉放氣閥,開啟真空閥,再開啟真空泵電源開始抽氣,使箱內達到用戶所需真空度,關閉真空閥,再關閉真空泵電源開關。2、把真空干燥箱電源開關撥至“I”處,設定所需溫度,箱內溫度開始上升,當箱內溫度接近設定溫度時,加熱指示燈忽亮忽熄,反復多次,一般120min以內擱板層面進入恒溫狀態。3、當所需工作溫度較低時,可采用二次設定方式,如所需工作溫度60℃,*次可以設定50℃,等溫度過沖開始回落后,再第二次設定6...
查看全文來亨科學儀器有三款氮吹儀,請根據實驗需要選擇。使用注意事項:1使用儀器前需認真閱讀化學合成反應儀《使用說明書》。2總電源開關在儀器后部電源線旁,儀器使用完畢后需關閉總電源。3如需拔、插冷凝回收器上的氣、水管時,必需先將氣、水嘴旋下后再操作,以免損壞冷凝器。4在不使用低溫反應時,請將冷模塊取下。(冷罩變可取下)。5本儀器承正壓很低,不可以關閉所有氣閥進行反應,以免發生危險。6取下試管傾斜,將攪拌子滑入試管,禁止試管在儀器位上直接投入攪拌子。
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