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測(cè)粉體粒徑時(shí)的取樣方法

更新時(shí)間:2018-07-24 點(diǎn)擊次數(shù):3575

粒度測(cè)試是用對(duì)少量樣品的測(cè)試結(jié)果了來(lái)代表大量粉體粒度分布的,因此取樣的要求是保證所測(cè)的樣品具有充分的代表性,否則不僅將得到錯(cuò)誤的結(jié)果,還將對(duì)接下來(lái)的工作產(chǎn)生誤導(dǎo),帶來(lái)嚴(yán)重后果。

 

因此,無(wú)論使用多么先進(jìn)的激光粒度儀,科學(xué)規(guī)范保證代表性的取樣方法,都是得到正確測(cè)試結(jié)果的前提條件。

 

那么,如何保證取樣的代表性呢?取樣的要點(diǎn)有以下幾個(gè)

一是盡量在粉體流動(dòng)過(guò)程中取樣

二是多點(diǎn)取樣

三是均勻

做到以上三點(diǎn),就能基本保證樣品的代表性。

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